光纖光譜儀通常採用光纖作爲信號耦合器件，將被測光耦合到光譜儀中進行光譜分析。由於光纖的方便性，用戶可以非常靈活的搭建光譜採集系統。光纖光譜儀的優勢在於測量系統的模組化和靈活性。德國MUT的微型光纖光譜儀的測量速度非常快，可以用於在線分析。
光纖光譜儀原理
光柵的選擇取決於光譜範圍以及分辨率的要求。對於光纖光譜儀而言，光譜範圍通常在200nm-2500nm之間。由於要求比較高的分辨率就很難得到較寬的光譜範圍;同時分辨率要求越高，其光通量就會偏少。對於較低分辨率和較寬光譜範圍的要求，300線/mm的光柵是通常的選擇。如果要求比較高的光譜分辨率，可以透過選擇3600線/mm的光柵，或者選擇更多像素分辨率的探測器來實現。
光纖光譜儀價格
1、龍韻紫外線光纖光譜儀4500元。
2、晶飛紫外線光纖光譜儀3700元。
3、廣州景頤光電科技有限責任公司石英光纖光纖光譜儀3000元。
4、聞奕光電高靈敏光纖光譜儀 10000元。
光纖光譜儀應用
測量
簡單而且迅速地測量LED的整個光通量的方法就是使用一個積分球，並把它連接到一個美國海洋光學公司的光譜儀上。該系統可以用鹵素燈進行定標(LS-1-CAL-INT)，然後用廣州標旗軟件從測量到的光譜分佈計算出相關參數，並實現輻射量的測量。所測光源的光譜發光強度還可以用μW/cm2/nm來計算、顯示並存儲。另外的視窗還可以顯示大約10個參數：輻射量μW/cm2,μJ/cm2,μW或μJ;光通量lux或lumen，色軸X,Y,Z,x,y,z,u,v和色溫。
2.薄膜厚度測量
美國海洋光學的膜厚測量系統基於白光干涉測量原理，可以測量的膜層厚度10nm-50μm，分辨率爲1nm。 光纖光譜儀薄膜測量，在半導體晶片生長過程中經常被用到，因爲等離子體刻蝕和澱積過程需要監控;其它應用如在金屬和玻璃材料基底上鍍透明光學膜層也需要測量膜層厚度。配套的廣州標旗應用軟件包括豐富的各種常用材料和膜層的n值和k值，可以實現膜層厚度的在線監測，並可以輸出到Excel檔案進行過程控制。